美国TSI3938型扫描电迁移率粒径谱仪

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TSI 3938型扫描电迁移率粒径谱仪

在过去30多年来，TSI SMPS扫描电迁移率粒径谱仪帮助研究者取得了气溶胶研究的新突破，并协助校准参考材料和其它气溶胶仪器。美国国家标准技术研究所（NIST）和世界各地的许多其它参考实验室使用TSI SMPS进行亚微米粒径分布测量。第三代3938型SMPS采用模块化、基于组件的设计，不但具有非常高的粒径分辨率，还具有快速扫描（每次扫描小于15秒）和自动组件识别功能。TSI SMPS易于使用，并可以为研究人员提供最高质量数据，是研究人员进行纳米粒子粒径

型号：TSI 3938型扫描电迁移率粒径谱仪

品牌：美国TSI

TSI 3938型扫描电迁移率粒径谱仪特点与优势

高分辨率数据：高达167通道

1nm到1,000nm的极宽粒径范围

符合ISO 15900:2009标准

快速测量：<10s扫描

宽浓度范围，高达10⁷颗粒/cm³

给您最大灵活度的组件设计

触摸屏控制无需电脑操作

免工具安装易于设置，自动发现组件

审慎的颗粒测量：适合多模样品