美国TSI 3938E57 1NM扫描电迁移粒径谱仪

主页 » 粒度仪 » 美国TSI 3938E57 1NM扫描电迁移粒径谱仪

30多年来，TSI的SMPS粒径谱仪被广泛作为测量亚微米和低纳米范围内气溶胶粒径分布的标准。用户通过仪器和3757型纳米增强CPC以及3086型差分静电迁移分析仪的配合使用，可以以高分辨率和高速度测量粒径和数量浓度，并监测小于1nm的工程和天然气溶胶粒子的反应动力学和新粒子生成。

型号：美国TSI 3938E57 1NM扫描电迁移粒径谱仪

品牌：美国TSI

美国TSI 3938E57 1NM扫描电迁移粒径谱仪特点与优势

快速获得粒径和数量浓度的高分辨率数据

·优化使扩散损失最小

·1至50nm间>109个通道

·配合3081A长DMA差分静电迁移分析仪使用，可测量从1nm到1µm 3个粒径数量级的粒子

模块化组件设计，可以根据用户测量需求定制，例如单独使用1nm CPC等

内置诊断和自动检测系统组件，可以获得可靠和可重复的测量数据

易于安装和使用的气溶胶仪器管理器（AIM）软件

多功能的粒子测量方式：适用于多模样品

美国TSI 3938E57 1NM扫描电迁移粒径谱仪应用范围

基础气溶胶研究

通过粒子源（如火焰合成、激光烧蚀、火花产生和成核/凝结）研究粒子成核和粒子生长。

燃烧和发动机排气研究（有机燃料、低于3nm的排放、天然气发动机、塑料成型和焊接

过滤研究

吸入或暴露室研究

*SMPS光谱仪包含3082型分级器、1nm DMA差分静电迁移分析仪、3757型纳米增强仪和3750型凝聚核粒子计数器等组件。

分类和标签:

粒度仪

手机: 191 2953 0036
手机: 132 6702 0783
电话: 0755 -8230 5783
电话: 0755 -2919 4959
邮件: saizr@foxmail.com

作为一个通过ISO 9001认证的制造商，你可以相信，我们所有的产品将达到或超过您的质量要求。为了提供最具竞争力的价格，我们成立了我们的SMT制造设施，能够生产高品质，精心设计的产品。